首页
关于天恒
产品中心
集成系统
半导体参数测量系统
功率器件测量系统
射频微波测试系统
光电耦合测量系统
多功能二维材料转移实验平台
光电测试平台
自动化测试系统
探针台
密闭高低温探针台
闭循环低温探针台
真空高低温探针台
大功率探针台
射频/微波探针台
负载牵引微波探针台
通用探针台
镭射分析探针台
高温探针台
平板探针台
小型探针台
小型真空高低温探针台
探针台配件
测量仪表
源表
示波器
信号源
半导体参数分析仪
矢量网络分析仪
光谱分析仪
阻抗分析仪
超快速脉冲IV测试模块
测试软件
半导体表征系统
工艺制程设备
等离子清洗机
HMDS预处理系统
无尘无氧烘箱
高精密匀胶机
高精密程控顶针加热台
光刻材料
桌上湿法显影刻蚀设备
F20薄膜厚度测量仪
F50薄膜厚度测量仪
国产膜厚测量仪
晶圆激光划片机
晶圆半自动裂片机
进口光刻胶/显影液
30PMF 保偏光纤熔接机
实验型柜式匀胶烤胶一体机/半自动显影机
对准光刻系统
分析仪器设备
傅立叶变换红外光谱仪
解决方案
半导体参数测量
光电耦合测量
真空低温测量
变温环境测量
射频/微波测量
高压/大电流测量
服务支持
服务支持
下载中心
联系我们
新闻资讯
公司新闻
行业资讯
技术知识
中文
EN
半导体表征系统
B1500A 半导体器件参数分析仪是一款拥有 IV、CV和快速脉冲 IV 等丰富测量功能的综合型器件表征解决方案测量可靠性非常高。
快速联系我们
详细描述
参数规格
产品包装
