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常见的半导体晶圆（Wafer）量测方法
常见的半导体晶圆（Wafer）量测方法
1.晶圆缺陷粒子检测系统颗粒和缺陷：颗粒和缺陷导致晶圆表面不规则形貌。散射入射光：通过检测散射光来监测颗粒和缺陷。晶圆缺陷检测系统可以通过获取缺陷的（X，Y）坐标来检测晶圆上的物理缺陷（颗粒）和图案缺...
2024-05-27
天恒科仪 Keithley2600 系列数字源表测试软件 V1.0 上线
天恒科仪(苏州)光电技术有限公司keithley2600系列数字源表测试软件V1.0，顺利通过国家版权中心审核，取得计算机软件著作权登记证书（登记号：2026S......
2026-09-22
强强联合｜天恒科仪 × MG3710A 矢量信号发生器，赋能无线通信射频测试
深耕射频微波测试领域，天恒科仪持续为行业客户提供高精度测试测量整体解决方案。本次携手安立MG3710A矢量信号发生器，助力5G、无线通信设备研发与性能验证！关于......
2026-09-22
深耕自研创新｜天恒科仪持续加码半导体精密测试装备技术研发
在半导体、光电测试国产化加速推进的浪潮之下，核心硬件与测试平台的自主研发能力，已经成为高端科学仪器企业的核心竞争力。天恒科仪（苏州）光电技术有限公司长期坚持技术......
2026-09-04
探针台交付的第三天，实验室老师发来一条消息
开箱那一刻，工程师没有急着把设备推进去。他先绕实验室走了一圈，确认了电源、气路、光学平台的布局，才动手拆封。这是天恒科仪在高校实验室里最常见的交付现场。没有轰动......
2026-09-04
华东地区半导体标杆企业，核心实力完全不可替代
半导体、光电、新能源产业的发展，离不开精密测试测量设备的核心支撑，是器件研发、性能检测、量产提质的关键环节。目前国内高端测试设备市场仍高度依赖海外品牌，普遍存在......
2026-09-04
三大服务优势，降低半导体项目综合成本
在半导体、光电与新能源器件从研发走向量产的全流程中，测试测量是必不可少的关键环节。不少科研与生产团队常会遭遇数据偏差、设备适配困难、运维繁琐等难题，直接拖慢实验......
2026-09-04
探针台也“卡脖子”？“受制于人”从来不是国产仪器的宿命
一枚芯片能不能被精准“把脉”，很大程度上取决于一台探针台的定位精度和系统集成度。长期由进口品牌主导的半导体测试设备市场里，天恒科仪（苏州）光电技术有限公司选择了......
2026-09-04
喜讯！天恒科仪正式通过ISO 9001质量管理体系认证！
喜讯！天恒科仪正式通过ISO9001质量管理体系认证！...
2026-01-16
激光镭射切割系统
切割金属线路去除钝化层、氧化物及金属层消除ITP短路...
2025-03-17
天恒科仪（苏州）光电技术有限公司
天恒科仪(苏州)光电技术有限公司总部位于中国苏州，是中国半导体精密分析技术及解决方案的研发商和生产商，以光电精密分析技术为核心的引领者，客户遍布多个国家和全国各......
2024-06-04