半导体参数曲线测试系统
支持 IV/VI 测试,适用于三电极CV、LSV等电化学测试;
具备 V-t/I-t/R-t/P-t 实时监测,可用于传感器与电化学过程分析;
提供 IVRP-t 缓存测试,支持微秒级高速采样;
集成 太阳能电池 I-V 测试,自动计算开路电压、短路电流、填充因子与转换效率;
支持多种信号输出:方波、脉冲、阶梯、正弦及自定义波形,适用于忆阻器、晶体管等器件测试。
可测量电容、电感、阻抗、电导率、介电常数、Q因子等交流参数;
支持频率响应分析(C-F)与偏压扫描测试(C-V);
配备高精度LCR测量功能,基本精度达0.05%,频率范围DC~8 MHz。





