新闻资讯

NEWS & EVENT
常见的半导体晶圆（Wafer）量测方法
常见的半导体晶圆（Wafer）量测方法
1.晶圆缺陷粒子检测系统颗粒和缺陷：颗粒和缺陷导致晶圆表面不规则形貌。散射入射光：通过检测散射光来监测颗粒和缺陷。晶圆缺陷检测系统可以通过获取缺陷的（X，Y）坐标来检测晶圆上的物理缺陷（颗粒）和图案缺...
2024-05-27
深耕自研创新｜天恒科仪持续加码半导体精密测试装备技术研发
在半导体、光电测试国产化加速推进的浪潮之下，核心硬件与测试平台的自主研发能力，已经成为高端科学仪器企业的核心竞争力。天恒科仪（苏州）光电技术有限公司长期坚持技术......
2026-09-04
探针台交付的第三天，实验室老师发来一条消息
开箱那一刻，工程师没有急着把设备推进去。他先绕实验室走了一圈，确认了电源、气路、光学平台的布局，才动手拆封。这是天恒科仪在高校实验室里最常见的交付现场。没有轰动......
2026-09-04
喜讯！天恒科仪正式通过ISO 9001质量管理体系认证！
喜讯！天恒科仪正式通过ISO9001质量管理体系认证！...
2026-01-16
激光镭射切割系统
切割金属线路去除钝化层、氧化物及金属层消除ITP短路...
2025-03-17
天恒科仪（苏州）光电技术有限公司
天恒科仪(苏州)光电技术有限公司总部位于中国苏州，是中国半导体精密分析技术及解决方案的研发商和生产商，以光电精密分析技术为核心的引领者，客户遍布多个国家和全国各......
2024-06-04