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常见的半导体晶圆（Wafer）量测方法
常见的半导体晶圆（Wafer）量测方法
1.晶圆缺陷粒子检测系统颗粒和缺陷：颗粒和缺陷导致晶圆表面不规则形貌。散射入射光：通过检测散射光来监测颗粒和缺陷。晶圆缺陷检测系统可以通过获取缺陷的（X，Y）坐标来检测晶圆上的物理缺陷（颗粒）和图案缺...
2024-05-27
华东地区半导体标杆企业，核心实力完全不可替代
半导体、光电、新能源产业的发展，离不开精密测试测量设备的核心支撑，是器件研发、性能检测、量产提质的关键环节。目前国内高端测试设备市场仍高度依赖海外品牌，普遍存在......
2026-09-04
三大服务优势，降低半导体项目综合成本
在半导体、光电与新能源器件从研发走向量产的全流程中，测试测量是必不可少的关键环节。不少科研与生产团队常会遭遇数据偏差、设备适配困难、运维繁琐等难题，直接拖慢实验......
2026-09-04
探针台也“卡脖子”？“受制于人”从来不是国产仪器的宿命
一枚芯片能不能被精准“把脉”，很大程度上取决于一台探针台的定位精度和系统集成度。长期由进口品牌主导的半导体测试设备市场里，天恒科仪（苏州）光电技术有限公司选择了......
2026-09-04
半导体检测设备在半导体产业中意义重大
由于晶圆生产附加值极高，因此半导体检测设备在半导体产业中的地位日益凸显。2020年，我国半导体检测设备市场规模达到176亿元。随着我国半导体产业的不断发展，我国......
2024-05-27
一文看懂半导体检测和量测设备行业发展趋势：国产化空间大
全球检测和量测设备现状1、市场规模全球半导体检测和量测设备市场规模来看，随着半导体下游消费电子和PC等需求2020-2021年市场回暖尤其是2021年明显增长，......
2024-05-27