首页
关于天恒
产品中心
集成系统
RGCG柳极电阻测试系统
半导体参数曲线测试系统
半导体参数测量系统
功率器件测量系统
射频微波测试系统
光电耦合测量系统
多功能二维材料转移实验平台
光电测试平台
无掩膜紫外光刻设备
自动化测试系统
探针台
密闭高低温探针台
闭循环低温探针台
真空高低温探针台
大功率探针台
射频/微波探针台
负载牵引微波探针台
通用探针台
镭射分析探针台
高温探针台
平板探针台
小型探针台
小型真空高低温探针台
探针台配件
测量仪表
2400 图形化系列 SMU
半导体参数曲线测试系统
2600B 系列 SMU
信号源
示波器
半导体参数分析仪
宽带矢量网络分析仪(VNA) ME7838/AX/EX/D/G
光谱分析仪
阻抗分析仪
超快速脉冲IV测试模块
测试软件
半导体表征系统
工艺制程设备
iFM系列 芯片位置测量设备
iWB系列 平面度测量设备
iWB系列 平面度测量设备
i3D系列 光学形貌3D检测设备
超级抑制强光相机
等离子清洗机
HMDS预处理系统
无尘无氧烘箱
高精密匀胶机
高精密程控顶针加热台
光刻材料
桌上湿法显影刻蚀设备
F20薄膜厚度测量仪
F50薄膜厚度测量仪
国产膜厚测量仪
晶圆激光划片机
便携式射频/微波测试仪器
MS202xC/MS203xC手持矢量网络分析仪+频谱分析仪
S33XE/S36XE 电缆与天线分析仪
MS2090A手持式频谱分析仪
MS2711E/MS2712E/MS2713E手持式频谱分析仪
MS2720T手持式频谱分析仪
MT8220T 手持式基站分析仪
MT8213E手持式基站分析仪
MS202xB/MS203xB手持矢量网络分析仪+频谱分析仪
MG3710A 矢量信号发生器
MG3740A 模拟信号发生器
MG3690C 宽频微波信号发生器
MS269xA 系列信号分析仪
MS2830A 信号分析仪
MS2830A 微波信号分析仪
MS2840A 信号分析仪
MS2850A 信号分析仪
解决方案
半导体参数测量
光电耦合测量
真空低温测量
变温环境测量
射频/微波测量
高压/大电流测量
服务支持
服务支持
下载中心
联系我们
新闻资讯
公司新闻
行业资讯
技术知识
中文
EN
Our Products
产品中心
光刻材料
光刻材料
l-line光刻胶、负性光刻胶、Remover300系列去胶液...
桌上湿法显影刻蚀设备
桌上湿法显影刻蚀设备
CDC湿法刻蚀显影机适应丁半导体、化工材料、硅片、晶片、基片、导电玻璃等工艺,制版的表面显影。...
F20薄膜厚度测量仪
F20薄膜厚度测量仪
使用F20高级频诺反射测量系统,我们能轻松的实现对膜层厚度和光学常数(n和k值)的测量。通过对膜层顶部、底部反射光诺进行分析,数秒内我们即可得到膜层的厚度、折射牢和消光系数。...
F50薄膜厚度测量仪
F50薄膜厚度测量仪
依靠F50先进的光谱测量系统,可以很简单快速地获得最大直径450毫米的样品薄膜的厚度分布图。采用r0极坐标移动平台,可以非常快速的定位所需测试的点并测试厚度,每秒测试两点...
国产膜厚测量仪
国产膜厚测量仪
配备精密多维运动控制系统,可以实现随样品高度随动,以及二维的膜厚mapping功能...
晶圆激光划片机
晶圆激光划片机
半导体晶圆芯片的激光划片切割专用设备,具有激光功率稳定、束光模式好、峰值功率高、低成本、安全、稳定、操作简单等特点...
晶圆半自动裂片机
晶圆半自动裂片机
适用于半导体产业中的GPP晶圆裂片...
进口光刻胶/显影液
进口光刻胶/显影液
...
30PMF 保偏光纤熔接机
30PMF 保偏光纤熔接机
独创的端面成像系统,光纤两端面清晰可见实现精准对芯...
实验型柜式匀胶烤胶一体机/半自动显影机
实验型柜式匀胶烤胶一体机/半自动显影机
本手动匀胶烤胶/显定影机一体机主要功能:包括基片匀胶/显影、烤胶/定影、排风、黄光照明等功能,...
对准光刻系统
对准光刻系统
高分辨率对准和曝光系统,小型、桌面式搭配特有光源,扩展光化学和光刻胶材料范围,打破传统光刻工艺的限制,对多种有机物直接光刻和图形化...
傅立叶变换红外光谱仪
傅立叶变换红外光谱仪
傅立叶变换红外光谱仪...
共136条
第一页
上一页
7
8
9
10
11
12
下一页