探针卡

半导体制造中用于晶圆测试（Wafer Test） 的关键接口设备，主要在芯片封装前对晶圆上的裸片（Die）进行电性能测试，其核心作用是通过精密探针连接自动测试设备（ATE）和晶圆，实现对芯片功能的筛选与质量验证，从而提升良率、降低成本。
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